IEC 62215-3-2013

Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method

发布日期：2013-07-17  实施日期：2013-07-17

SJ/T 10830-1996

电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ0454型双外围正或非驱动器(可供认证用)

Detail specification for electronic component--Semiconductor integrated circuit--CJ0454 Dual peripheral positive NOR drivers

实施日期：1997-01-01

GB/T 17574.20-2006

半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20：Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits

适用范围：本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范，包括电源电压值、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。　　同时给出每类标称电源电压的两种接口规范：正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的，典型容差大约...

发布日期：2006-12-05  实施日期：2007-05-01

CNS 12865-11-2005

数位微电子量测法(杂讯边限量测)

Noise margin measurements for digital microelectronic devices

发布日期：2005-07-26  实施日期：2005-07-26

DD ENV 50219-1996(R2004)

欧洲迷你测试芯片可靠性试验结构的描述 (S)

Description of the reliability test structures of the European mini test chip

GB/T 13067-1991

半导体集成电路系列和品种 石英电子钟表用系列的品种

Series and products for semiconductor integrated circuits--Products for use in quartz electronic clock and watch

实施日期：1992-03-01

BS QC 790110-1992

Halbleiterbauelemente. Integrierte Schaltungen. Integrierte Digitalschaltungen. Bauartspezifikation fuer mikroprozessor-integrierte Schaltungen Blank Detail Specification Microprocessor Integrated Circuits (IEC 748-2-6:1991) (T) Dispositifs a semiconducteurs. Circuits integres. Circuits integres numeriques. Specification particuliere cadre pour les microprocesseurs a circuits integres

实施日期：1992-01-01

GB/T 6814-1986

半导体集成非线性电路系列和品种 模拟开关的品种

Families and variety of semiconductor integrated nonlinear circuits Variety of analog switch

GB/T 35010.4-2018

半导体芯片产品 第4部分：芯片使用者和供应商要求

Semiconductor die products-Part 4:Requirements for die users and suppliers

适用范围：GB/T 35010的本部分用于指导半导体芯片产品的生产、供应和使用，半导体芯片产品包括： ●晶圆； ●单个裸芯片； ●带有互连结构的芯片与晶圆； ●小尺寸或部分封装的芯片与晶圆。 本部分包含GB/T 35010其他部分需求的信息表，本部...

发布日期：2018-03-15  实施日期：2018-08-01

GB/T 17864-1999

关键尺寸(CD)计量方法

CD Metrology procedures

适用范围：本标准的目的是规定计量系统进行光刻工艺中CD图形尺寸计量精确度的统一方法。本标准不涉及如何用这些计量系统去解决问题，也不涉及工艺中其他影响因素的变化，如大圆片的热处理、曝光机的聚焦控制、以及材料等。　　计量或测量...

发布日期：1999-09-13  实施日期：2000-06-01

IEC TR 61967-1-1-2010

集成电路 电磁辐射的测量 第1-1部分:一般条件和定义 近场扫描数据交换格式

Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions. Part 1-1:General conditions and definitions. Near-field scan data exchange format

发布日期：2010-05-11  实施日期：2010-05-11

GB/T 14620-1993

薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits

适用范围：本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。　　本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)。

发布日期：1993-09-03  实施日期：1993-12-01

BS CECC 90109-1986

Harmonisiertes Guetebestaetigungsystem fuer Bauelemente der Elektronik. Familien-Spezifikation. Digitale integrierte HC MOS-Schaltungen Serien HC/HCT/HCU Specification for Harmonized system of quality assessment for electronic comonents Family Specification Digital integrated HC MOS circuits series HC/HCT/HCU Système harmonise d'assurance de la qualite des composants electroniques. Specification de famille. Circuits integres digitaux HC MOS series HC/HCT/HCU REMAINS CURRENT"

实施日期：1986-11-01

GB 3442-1986

半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理

实施日期：1987-06-30

DIN IEC 60747-10-1987

半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路总规范

Semiconductor devices; generic specification for semiconductor devices and integrated circuits; identical with IEC 60747-10, edition 1984

NF C96-410/A1-1984

IEC 60747-10-1991

半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路的总规范

Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits

适用范围：It is a generic specification for semiconductor devices, discrete devices and integrated circuits, including multichip integrated circuits, but excluding hybrid circuits. It defines general procedures ...

发布日期：1991-05-20  实施日期：1991-05-20

GB 7201-1987

电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10106型ECL三4.3.3输入或非门(可供认证用)

实施日期：1987-10-01

BS DD-ENV 50219-1996(R2004)

欧洲迷你测试芯片可靠性试验结构的描述 (S)

Description of the reliability test structures of the European mini test chip

IEC TR 60828-1988

使用IEC 603-2连接器的微处理器系统的管脚配置

Pin allocations for microprocessor systems using the IEC 60603-2connector

适用范围：Note: -For the price of this publication, please consult the ISO/IEC price-code list. This publication has the status of a technical report.

发布日期：1988-05-14  实施日期：1988-05-14