Description of the reliability test structures of the European mini test chip
Detail specification for electronic component--Semiconductor integrated circuit-CT1002 TTL Quad 2 input NOR gate
实施日期:1997-01-01
Pin allocations for microprocessor systems using the IEC 60603-2connector
适用范围:Note: -For the price of this publication, please consult the ISO/IEC price-code list. This publication has the status of a technical report.
发布日期:1988-05-14 实施日期:1988-05-14
Family specification - TTL advanced Schottky digital integrated circuits - Series 54 AS, 74 AS; German version EN 190108:1994
Semiconductor devices; generic specification for semiconductor devices and integrated circuits; identical with IEC 60747-10, edition 1984
发布日期:2011-12-30 实施日期:2011-12-30
CD Metrology procedures
适用范围:本标准的目的是规定计量系统进行光刻工艺中CD图形尺寸计量精确度的统一方法。本标准不涉及如何用这些计量系统去解决问题,也不涉及工艺中其他影响因素的变化,如大圆片的热处理、曝光机的聚焦控制、以及材料等。 计量或测量...
发布日期:1999-09-13 实施日期:2000-06-01
Semiconductor die products-Part 4:Requirements for die users and suppliers
适用范围:GB/T 35010的本部分用于指导半导体芯片产品的生产、供应和使用,半导体芯片产品包括: ●晶圆; ●单个裸芯片; ●带有互连结构的芯片与晶圆; ●小尺寸或部分封装的芯片与晶圆。 本部分包含GB/T 35010其他部分需求的信息表,本部...
发布日期:2018-03-15 实施日期:2018-08-01
Halbleiterbauelemente. Integrierte Schaltungen. Integierte Kundenschaltungen Semiconductor Devices-Integrated Circuits Part 5:Semicustom Integrated Circuits Dispositifs a semiconducteurs. Circuits inte...
适用范围:To be read in conjunction with IEC 60747-1:1983, IEC 60748-1:1984
实施日期:1997-08-15
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-4: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Blank detail specification
适用范围:Serves as a Blank Detail Specification for a high quality approval system and contains requirements for style and layout and minimum content of detail specifications. These requirements are applicable ...
发布日期:2002-05-17 实施日期:2002-05-17
发布日期:2015-08-28 实施日期:2015-08-28
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